ИИ научился находить дефекты внутри «атомных сэндвичей» в 3D
Американские материаловеды и специалисты по ИИ разработали платформу для трехмерного картографирования атомных дефектов в максенах. Новая технология позволяет «заглянуть» внутрь многослойных нанолистов и определить точное положение пустых зон в кристаллической решетке, что раньше было невозможно из-за плоской структуры снимков электронной микроскопии.






















