Платформа объединяет моделирование чипов, трехмерную проверку топологии и проектирование печатных плат в единую цифровую среду. Интеграция набора средств WIN NP 120P с программным обеспечением Keysight Advanced Design System дает инженерам возможность тестировать связку «кристалл — корпус — плата» в условиях, максимально приближенных к реальности, еще до отправки заказа на завод.
Keysight и WIN Semiconductors ускоряют выпуск GaN-чипов
Разработчики радиочастотных микросхем на нитриде галлия получили инструмент, минимизирующий затраты на предпроизводственные итерации. Новая платформа от Keysight Technologies и WIN Semiconductors позволяет пройти путь от проектирования до выпуска устройства с первого раза, исключая необходимость в дорогостоящих доработках кристаллов перед запуском в серию.
Подобная точность моделирования критически важна для производства сложной электроники: ошибки в топологии обычно оборачиваются многонедельными задержками и значительными финансовыми потерями из-за повторных циклов производства. Технология ориентирована на создателей оборудования для 5G, спутниковой связи, систем Wi-Fi и радиолокации. По прогнозам, востребованность подобных GaN-решений будет расти: ожидается, что к 2031 году мировой рынок достигнет отметки в 2,77 млрд долларов.
Комментарии (0)
Пока нет комментариев. Будьте первым!